人造金刚石晶体中微观杂质的TEM分析

人工晶体学报 ›› 2000, Vol. 29 ›› Issue (4): 394-398.

人造金刚石晶体中微观杂质的TEM分析

尹龙卫;邹增大;李木森;孙东升;郑培智;郝兆印

山东工业大学材料科学与工程学院,济南,250061;吉林大学国家超硬材料重点实验室,长春,130012

出版日期:2000-04-15 发布日期:2021-01-20
基金资助:
中国科学院资助项目(59631060);教育部优秀青年教师资助计划

TEM Investigation on Micro-inclusions Contained in Synthetic Diamond Single Crystal

YIN Long-wei;ZOU Zeng-da;LI Mu-sen;SUN Dong-sheng;ZHENG Pei-zhi;HAO Zhao-yin

Online:2000-04-15 Published:2021-01-20

摘要/Abstract

摘要： 本文成功地利用透射电子显微术探讨了高温高压条件下于Fe-Ni-C系统中生长的人造金刚石单晶内部的微观杂质.分析了金刚石晶体中杂质的微观结构、化学成分组成、晶体结构及其可能形成的原因.研究结果表明,金刚石晶体中微观杂质与原材料、传压介质和高温高压过程密切相关,主要由面心立方(FeNi)23C6,正交结构的FeSi2,面心立方SiC和非晶态石墨组成.

中图分类号:

TQ164.8

尹龙卫;邹增大;李木森;孙东升;郑培智;郝兆印. 人造金刚石晶体中微观杂质的TEM分析[J]. 人工晶体学报, 2000, 29(4): 394-398.

YIN Long-wei;ZOU Zeng-da;LI Mu-sen;SUN Dong-sheng;ZHENG Pei-zhi;HAO Zhao-yin. TEM Investigation on Micro-inclusions Contained in Synthetic Diamond Single Crystal[J]. Journal of Synthetic Crystals, 2000, 29(4): 394-398.

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