碲锌镉(CdZnTe, CZT)晶体因优异的物理特性在室温射线探测和HgCdTe红外探测领域占据重要地位。然而,CZT晶体生长过程中产生的点缺陷、沉积相和位错严重影响晶体质量和器件性能。研究表明,精心设计的退火工艺可有效降低沉积相密度,调控点缺陷浓度,提升晶体电阻率和载流子迁移率寿命积。本文深入分析了CZT晶体中缺陷的形成机理,系统评述了恒温退火、梯度退火、分步退火、器件退火、原位退火和溶液退火等技术的研究进展,比较了各种退火技术的优缺点及其对CZT晶体性能的影响,同时提出了未来研究应聚焦于深化退火机理的理解、开发新型退火技术、优化界面工程和实现智能化退火工艺,以进一步提升CZT晶体性能,推动其在高性能辐射探测和红外成像领域的应用。