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人工晶体学报 ›› 2008, Vol. 37 ›› Issue (2): 285-288.

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脉冲退火法制备多晶硅薄膜的研究

张松青;张丽伟;赵新蕖;卢景霄   

  1. 河南机电高等专科学校,新乡,453002;新乡学院,新乡,453000;郑州大学材料物理教育部重点实验室,郑州,450052
  • 出版日期:2008-04-15 发布日期:2021-01-20
  • 基金资助:
    河南省自然科学基金(2008C140001)

Investigation on Poly-Si Thin Film Fabricated by PRTP

ZHANG Song-qing;ZHANG Li-wei;ZHAO Xin-qu;LU Jing-xiao   

  • Online:2008-04-15 Published:2021-01-20

摘要: 用射频等离子体化学气相沉积(RF-PECVD)法在普通玻璃衬底上低温制备了μc-Si:H薄膜.采用快速光热退火炉(RTP),分别用低温(<650℃)和中温(<750℃)脉冲法(PRTP)对薄膜进行了退火处理.用拉曼光谱和扫描电子显微镜(SEM)研究了不同条件下退火薄膜散射谱的特征和表面形貌.结果显示,脉冲退火法晶化的薄膜,晶化率达到了53;,部分颗粒团簇的尺寸已达到200nm左右.用声子限域理论和表面尺寸效应对薄膜频谱的"红移"和"蓝移"现象进行了分析.

关键词: Si薄膜;脉冲快速光热退火;拉曼光谱;扫描电子显微镜

中图分类号: