人工晶体学报 ›› 2009, Vol. 38 ›› Issue (4): 916-919.
王艳;黄剑锋;曹丽云;曾燮榕;熊信柏;吴建鹏
WANG Yan;HUANG Jian-feng;CAO Li-yun;ZENG Xie-rong;XIONG Xin-bo;WU Jian-peng
摘要: 采用阴极恒电压法在ITO导电玻璃表面沉积了Bi2S3薄膜,利用X射线衍射(XRD)、原子力显微镜(AFM)对制备的薄膜进行了表征.研究了pH值、沉积时间、沉积液浓度等工艺因素对薄膜的影响.结果表明:电沉积制备Bi2S3薄膜的过程中,合适的Bi3+与S2O32-的浓度水平是至关重要的;在电沉积溶液pH=6.5,沉积时间为20 min,沉积电压为1 V,加入柠檬酸三钠作络合剂的情况下,得到沿(240)晶面生长良好的Bi2S3薄膜,薄膜组成均匀致密;增加沉积溶液pH值,薄膜的结晶程度逐渐提高,红外透过比提高.
中图分类号: