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人工晶体学报 ›› 2012, Vol. 41 ›› Issue (4): 977-981.

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直流反应磁控溅射法制备ZnO: Zr透明导电薄膜

张化福;类成新;刘汉法;袁长坤   

  1. 山东理工大学理学院,淄博,255049
  • 出版日期:2012-08-15 发布日期:2021-01-20
  • 基金资助:
    the Natural Science Foundation of Shandong Province(ZR20O9GQ011)

Preparation of Transparent Conducting ZnO∶ Zr Films Deposited by DC Reactive Magnetron Sputtering

ZHANG Hua-fu;LEI Cheng-xin;LIU Han-fa;YUAN Chang-kun   

  • Online:2012-08-15 Published:2021-01-20

摘要: 以Zn∶ Zr为靶材,利用直流反应磁控溅射法制备了ZnO∶ Zr透明导电薄薄膜.研究了沉积压强对ZnO∶ Zr薄膜形貌、结构、光学及电学性能的影响.实验结果表明所制备的ZnO∶ Zr为六方纤锌矿结构的多晶薄膜,具有垂直于衬底方向的c轴择优取向.沉积压强对ZnO∶ Zr薄膜的晶化程度、形貌、生长速率和电阻率影响很大,而对其光学性能如透光率、光学带隙及折射率影响不大.当沉积压强为2Pa时,ZnO∶ Zr薄膜的电阻率达到最小值2.0×10-3Ω ·cm,其可见光平均透过率和平均折射率分别为83.2;和1.97.

关键词: 直流反应磁控溅射;ZnO∶ Zr薄膜;透明导电薄膜;沉积压强

中图分类号: