摘要: 通过对p型CdZnTe(111)面的结构分析,用真空蒸发法在p型CdZnTe晶体(111)面制备出Au/Zn复合电极,运用金相显微镜、AFM测试、SEM剖面观察、EDS成分分析、Ⅰ-Ⅴ特性测试及势垒高度计算等多种手段研究了Au/Zn复合电极对金属和半导体接触性能的影响.结果表明,在P型CdZnTe(111)A面蒸镀Au电极,在B面蒸镀Au/Zn复合电极时获得的势垒高度最低,有效减小了富Te面对金半接触的影响.Au/Zn复合电极能获得比Au电极更理想的接触性能.
中图分类号:
杨升;闵嘉华;梁小燕;张继军;邢晓兵;段磊;时彬彬;孟华. p型CdZnTe晶体(111)B面的Au/Zn复合电极的制备和研究[J]. 人工晶体学报, 2015, 44(4): 988-992.