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人工晶体学报 ›› 2005, Vol. 34 ›› Issue (6): 1079-1082.

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Si基外延GaN中缺陷的腐蚀研究

赵丽伟;刘彩池;滕晓云;朱军山;郝秋艳;孙世龙;王海云;徐岳生;胡家辉;冯玉春;郭宝平   

  1. 河北工业大学信息功能材料研究所,天津,300130;深圳大学光电子学研究所,深圳,518060
  • 出版日期:2005-12-15 发布日期:2021-01-20
  • 基金资助:
    教育部跨世纪优秀人才培养计划;河北省自然科学基金(E2005000042)

Study on Defects in GaN Grown on Silicon

ZHAO Li-wei;LIU Cai-chi;TENG Xiao-yun;ZHU Jun-shan;HAO Qiu-yan;SUN Shi-long;WANG Hai-yun;XU Yue-sheng;HU Jia-hui;FENG Yu-chun;GUO Bao-ping   

  • Online:2005-12-15 Published:2021-01-20

摘要: 本文采用KOH:H2O=3:20~1:25(质量比)的KOH溶液,对Si基外延GaN进行湿法腐蚀.腐蚀后用扫描电子显微镜(SEM)观察,GaN面出现了六角腐蚀坑,它是外延层中的位错露头,密度约108/cm2.腐蚀坑的密度随腐蚀时间延长而增加,说明GaN外延生长过程中位错密度是逐渐降低的,部分位错因相互作用而终止于GaN体内.观察缺陷腐蚀形貌还发现,接近裂纹处腐蚀坑的密度要高于远离裂纹处腐蚀坑的密度,围绕裂纹有许多由裂纹引起的位错.腐蚀坑的密度可以很好地反映GaN晶体的质量.晶体质量较差的GaN片,腐蚀后其六角腐蚀坑的密度高.

关键词: GaN;湿法腐蚀;六角腐蚀坑;SEM

中图分类号: