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人工晶体学报 ›› 2006, Vol. 35 ›› Issue (3): 669-672.

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Au/p-CZT晶体的光致发光以及电学性能研究

李强;介万奇;傅莉;汪晓芹;查钢强;曾冬梅;杨戈   

  1. 西北工业大学材料学院,西安,710072
  • 发布日期:2021-01-20
  • 基金资助:
    国家自然科学基金(50336040)

Study on PL and Electrical Properties of Au/p-CZT Crystal

LI Qiang;JIE Wan-qi;FULi;WANG Xiao-qin;ZHA Gang-qiang;ZENG Dong-mei;YANG Ge   

  • Published:2021-01-20

摘要: 对比了CZT晶片经腐蚀与钝化表面处理的PL谱,结果表明NH4F/H2O2作为CZT晶体表面钝化剂,钝化后CZT晶体表面陷阱态密度减小到最低程度,同时减小了与Cd空位复合有关的深能级杂质浓度.用Agilent 4339B高阻仪进行CZT晶片I-V特性测试以及Agilent 4294A高精度阻抗分析仪进行CZT晶片的C-V特性测试,结果表明钝化均能不同程度提高Au/p-CZT接触的势垒高度,减小了漏电流.主要原因是在CZT表面钝化生成的TeO2氧化层增加接触势垒高度,并减小了电荷因隧道效应而穿过氧化层的几率.

关键词: CZT晶体;PL谱;I-V特性;C-V特性

中图分类号: