摘要: 用溶胶凝胶法制备了CaBi4Ti4O15铋层状钙钛矿结构陶瓷样品,研究了烧结温度对其显微结构和电性能的影响,分析了相关机理,认为烧结温度过高主要会引起烧结过程中铋的挥发导致氧空位产生造成晶格畸变使材料"变硬"而影响样品的压电性能.发现在1100℃温度下烧结的样品为铋层状钙钛矿结构,晶粒发育完全,综合性能良好,居里温度为784℃,压电常数d33为7.7×10-12 C/N、介电损耗tanδ为2.1×10-3.
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范素华;张丰庆;胡广达;王培吉;徐静;张伟. 烧结温度对CaBi4Ti4O15陶瓷电性能的影响[J]. 人工晶体学报, 2007, 36(2): 396-399.
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