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人工晶体学报 ›› 2009, Vol. 38 ›› Issue (1): 21-25.

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高抗灰迹KTP晶体的折射率测量与比较

苏榕冰;黄凌雄;张戈;陈黎娜;陈金凤;庄健;陈昱;曾文荣   

  1. 中国科学院福建物质结构研究所,福州,350002
  • 出版日期:2009-02-15 发布日期:2021-01-20

Refractive Measurement and Comparison of High Gray-tracking Resistance KTP Crystal

SU Rong-bing;HUANG Ling-xiong;ZHANG Ge;CHEN Li-na;CHEN Jin-feng;ZHUANG Jian;CHEN Yu;ZENG Wen-rong   

  • Online:2009-02-15 Published:2021-01-20

摘要: 利用改进的顶部籽晶熔盐法生长出高抗灰迹KTP晶体,使用自准直法测量了其在不同温度时若干波长下的主轴折射率,根据Sellmeier方程拟合出在测量波长区间内的主轴折射率色散曲线,计算出相应的倍频第Ⅱ类相位匹配方向,并与使用常规熔盐法生长的普通KTP晶体进行了比较.结果表明,高抗灰迹KTP的值始终比常规熔盐法生产的普通KTP大.

关键词: 高抗灰迹KTP晶体;主轴折射率;相位匹配方向

中图分类号: