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人工晶体学报 ›› 2010, Vol. 39 ›› Issue (5): 1206-1210.

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Mg掺杂量和退火温度对MgxZn1-xO:Al紫外透明导电薄膜结构与性能的影响

王华;黄竹;许积文;杨玲   

  1. 桂林电子科技大学材料科学与工程学院,桂林,541004
  • 出版日期:2010-10-15 发布日期:2021-01-20
  • 基金资助:
    广西教育厅科研项目(200734)

Effects of Mg Doping Content and Annealing Temperature on Structure and Properties of MgxZn1-xO:Al UV-transparent Conducting Thin Films

WANG Hua;HUANG Zhu;XU Ji-wen;YANG Ling   

  • Online:2010-10-15 Published:2021-01-20

摘要: 以自制MgxZn1-xO:Al陶瓷为靶材,采用磁控溅射工艺在石英玻璃衬底上制备了MgxZn1-xO:Al紫外透明导电薄膜,研究了Mg掺杂量和退火温度对MgxZn1-xO:Al薄膜结构和光电性能的影响.X射线衍射表明,在x≤0.4的范围内,MgxZn1-xO:Al薄膜为六角纤锌矿结构,当x≥0.6时,MgxZn1-xO:Al薄膜为立方结构.当x≤0.4时,随着x值的增加,薄膜的电阻率有所增加,但其光学吸收边产生明显的蓝移,禁带宽度显著增大,透射光谱扩展到紫外区域.退火对薄膜电阻率影响显著,随着退火温度的增加,样品的电阻率先大幅度降低,后有略微的回升,600 ℃时电阻率最低,且吸收边较未退火时有一定的蓝移.

关键词: MgxZn1-xO:Al;紫外透明导电薄膜;Mg掺杂;光电性能

中图分类号: