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人工晶体学报 ›› 2012, Vol. 41 ›› Issue (6): 1494-1497.

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衬底温度对MOCVD-ZnO薄膜特性的影响

孙小虎;雷青松;曾祥斌;薛俊明;鞠洪超;陈阳洋   

  1. 华中科技大学电子科学与技术系,武汉,430074;河北汉盛光电科技有限公司,衡水,053000
  • 出版日期:2012-12-15 发布日期:2021-01-20

Influence of Substrate Temperature on the Properties of ZnO Thin Films Grown by MOCVD Technique

SUN Xiao-hu;LEI Qing-song;ZENG Xiang-bin;XUE Jun-ming;JU Hong-chao;CHEN Yang-yang   

  • Online:2012-12-15 Published:2021-01-20

摘要: 利用金属有机物化学气相沉积(MOCVD)生长技术,制备本征ZnO薄膜,并研究薄膜的结构、形貌及光电等性能.结果表明:衬底温度对ZnO薄膜的微观结构、电学、光学及表面形貌等有显著影响.在衬底温度为180℃时获得电阻率为2.17×10-2Ω·cm.平均透过率为85;的低电阻、高透过率、结晶质量高、表面呈绒面结构的本征ZnO薄膜.对本征ZnO薄膜进一步掺杂和结构优化有望用于硅薄膜太阳能电池的前电极.

关键词: MOCVD;绒面ZnO薄膜;衬底温度;太阳电池

中图分类号: