晶格失配和退火氧压对La0.825Ca0.175MnO3薄膜的电学性能的影响

人工晶体学报 ›› 2014, Vol. 43 ›› Issue (11): 2874-2879.

晶格失配和退火氧压对La0.825Ca0.175MnO3薄膜的电学性能的影响

陈清明;崔琦;蔡云麒;张斌;马吉;张辉

昆明理工大学材料科学与工程学院,昆明,650093

出版日期:2014-11-15 发布日期:2021-01-20
基金资助:
General Project of Science and Technology Department of Yunnan Province(KKSA201151081)

Effects of Lattice Mismatch and Oxygen Annealing on Electrical Properties of La0.825Ca0.175MnO3 Thin Films

CHEN Qing-ming;CUI Qi;CAI Yun-qi;ZHANG Bin;MA Ji;ZHANG Hui

Online:2014-11-15 Published:2021-01-20

摘要/Abstract

摘要： 采用紫外脉冲激光沉积技术分别在LaA1O3(LAO)、(LaAlO3)0.3-(SrAlTaO6)0.7(LSAT)和SrTiO3(STO) (001)单晶衬底上制备了La0.825Ca0.175MnO3(LCMO)薄膜.实验发现衬底的晶格失配度和退火氧压对薄膜结晶质量和电学性能有重要影响.电阻-温度曲线显示,生长在LAO(压应变)的LCMO薄膜比生长在STO(拉伸应变)的薄膜有更高的绝缘体-金属转变温度Tp和更大的电阻温度系数(TCR).增加退火氧压可以有效地提高薄膜的Tp和TCR值.当退火氧压为30000 Pa时,与衬底晶格失配度最小的LCMO/LSAT薄膜具有最高的Tp(234.5 K)和最大的TCR (22.4;).实验结果表明Ca含量为0.175的La1-xCaxMnO3薄膜材料在测辐射热计等方面有潜在的应用前景.

中图分类号:

TB34

陈清明;崔琦;蔡云麒;张斌;马吉;张辉. 晶格失配和退火氧压对La0.825Ca0.175MnO3薄膜的电学性能的影响[J]. 人工晶体学报, 2014, 43(11): 2874-2879.

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