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人工晶体学报 ›› 2007, Vol. 36 ›› Issue (1): 42-46.

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透明导电薄膜与p-Si:H膜接触特性的研究

吴芳;王海燕;卢景霄;郜小勇;杨仕娥;陈永生;杨根;王子健   

  1. 郑州大学物理工程学院材料物理教育部重点实验室,郑州,450052
  • 出版日期:2007-02-15 发布日期:2021-01-20

Study on the Contact Characteristics of Different Transparent Conductive Films with p-Si:H Films

WU Fang;WANG Hai-yan;LU Jing-xiao;GAO Xiao-yong;YANG Shi-e;CHEN Yongs-heng;YANG Gen;WANG Zi-jian   

  • Online:2007-02-15 Published:2021-01-20

摘要: 本实验采用PECVD方法在不同透明导电薄膜上沉积了p型掺杂(p-Si:H)膜.用拉曼(Raman)光谱测试了p-Si:H膜的晶化率,并用扫描电子显微镜(SEM)观察了其形貌.结果表明:在SnO2上沉积的p-Si:H膜的晶化率较其它两种衬底高,相应的SEM形貌显示颗粒尺寸也较大.通过I-V测试仪测试了ZnO:Al/p-Si:H、SnO2/p-Si:H和SnO2/ZnO:Al/p-Si:H的接触特性,结果显示ZnO:Al/p-Si:H的接触特性并不比SnO2/p-Si:H差.

关键词: 透明导电膜;p-Si:H膜;I-V测试;电接触特性;晶化率

中图分类号: