摘要: 纳米材料的化学组分及含量影响其光、电、声、热、磁等物理性能,电子显微分析是表征纳米晶体化学组分的重要方法之一.本文综述了X-射线能谱(EDS)、X-射线波谱(WDS)、电子能量损失谱(EELS)和选区电子衍射(SAED)等现代电子显微分析技术在表征纳米晶体化学组分、形貌、尺寸和结构等方面的应用及其研究进展,并比较了这些分析方法存在的差异,提出了其应用中存在的不足及今后的研发方向.
中图分类号:
何节玉;柳一鸣;欧阳健明. 电子显微分析在表征纳米晶体化学组分中的应用[J]. 人工晶体学报, 2009, 38(5): 1266-1271.
HE Jie-yu;LIU Yi-ming;OUYANG Jian-ming. Application of Electron Microanalysis in Characterization of the Chemical Composition of Nanocrystallites[J]. JOURNAL OF SYNTHETIC CRYSTALS, 2009, 38(5): 1266-1271.