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人工晶体学报 ›› 2013, Vol. 42 ›› Issue (6): 1154-1158.

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退火对硫化方法制备ZnS薄膜特性的影响

张仁刚;卓雯;王玉华;彭顺金;陈克亮;徐千山   

  1. 武汉科技大学应用物理系,武汉,430081
  • 出版日期:2013-06-15 发布日期:2021-01-20
  • 基金资助:
    湖北省教育厅科研计划重点项目(D20121109);武汉科技大学绿色制造与节能减排科技研究中心开放基金(B1220)

Influence of Annealing on the Properties of ZnS Thin Films Prepared by Sulfidation

ZHANG Ren-gang;ZHUO Wen;WANG Yu-hua;PENG Shun-jin;CHEN Ke-liang;XU Qian-shan   

  • Online:2013-06-15 Published:2021-01-20

摘要: 以反应磁控溅射方法沉积ZnO薄膜,然后在空气和H2S气氛中退火制备了六方相ZnS薄膜.用X射线衍射仪(XRD)、紫外-可见透射光谱和扫描电子显微镜(SEM)对薄膜进行表征.提高空气退火温度能够改善ZnS薄膜结晶性,而空气退火温度超过500℃则会降低ZnS薄膜结晶性.另外,当硫化退火温度低于400℃时,ZnO只能部分转变为ZnS,只有硫化温度等于或大于400℃时,ZnO才能全部转变为ZnS.硫化前后薄膜晶粒尺寸有显著变化.所得ZnS薄膜在可见光范围的透过率约为80;,带隙为3.61 ~3.70 eV.

关键词: ZnS薄膜;溅射;空气退火;硫化

中图分类号: