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人工晶体学报 ›› 2015, Vol. 44 ›› Issue (11): 3000-3004.

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6H-SiC硅面S钝化工艺研究

陈进;杨莺;邢青青;张力;晁苗苗;穆美珊   

  1. 西安理工大学电子工程系,西安,710048
  • 出版日期:2015-11-15 发布日期:2021-01-20
  • 基金资助:
    国家自然科学基金(51207128,51177134);陕西省教育厅基金(2013JK1102)

Sulfur Passivation Processing on Silicon Surface of 6H-SiC

CHEN Jin;YANG Ying;XING Qing-qing;ZHANG Li;CHAO Miao-miao;MU Mei-shan   

  • Online:2015-11-15 Published:2021-01-20

摘要: 采用(NH4)2S溶液钝化SiC的Si面,借助反向I-V特性间接表征钝化效果,得到了SiC表面最佳的钝化参数:钝化温度60 ℃、钝化时间30 min、NH3·H2O浓度为2.4 mol/L、(NH4)2S浓度为0.22 mol/L.XPS测试结果表明钝化后的6H-SiC表面形成了Si-S键,反向饱和I-V特性表明S钝化降低了表面的态密度.实验结果与第一性原理计算结果相吻合.

关键词: 碳化硅;S钝化;I-V;XPS

中图分类号: