摘要: 采用一种处于电容放电模式(E-mode)的温和氧气电容耦合等离子体技术对薄层MoS2进行处理,实现了P型掺杂.通过光学显微镜、拉曼光谱、X射线光电子能谱和场效应晶体管的转移曲线测试,对MoS2的掺杂机理进行了分析,发现温和氧气等离子体处理过程中氧和钼能形成Mo-O键,从而提供额外的空穴使其电子浓度下降,最终导致其开启电压变高、输出电流下降,同时氧气的化学吸附诱导在MoS2层中引入了P型掺杂.此研究为实现MoS2的P型掺杂提供了新途径.
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刘明雪;冯少朋;肖少庆;南海燕;张秀梅;顾晓峰. 基于温和氧等离子体实现硫化钼P型掺杂的研究[J]. 人工晶体学报, 2018, 47(9): 1778-1783.
LIU Ming-xue;FENG Shao-peng;XIAO Shao-qing;NAN Hai-yan;ZHANG Xiu-mei;GU Xiao-feng. Investigation on P-type Doping of MoS2 via Soft Oxygen Plasma[J]. JOURNAL OF SYNTHETIC CRYSTALS, 2018, 47(9): 1778-1783.