摘要: 首次报道了利用光学显微法和同步辐射白光X射线形貌术对Cr:KTP晶体缺陷的研究结果.光学显微法采用热磷酸作为腐蚀剂,用Opton大型显微镜反射法观察,观测到(100)面和(021)面的位错蚀坑以及(021)面的小角度晶界.用同步辐射白光X射线形貌术作出(001)面、(010)面和(100)面形貌图,从图中可明显观察到生长层、扇形界及位错线.由此得出,Cr:KTP晶体的主要缺陷是位错、生长扇形界、生长层等.
中图分类号:
胡秀琴;官文栎;牟其善;刘希玲;马长勤;王绪宁. Cr:KTiOPO4晶体缺陷的研究[J]. 人工晶体学报, 2000, 29(1): 69-72.
HU Xiu-qin;GUAN Wen-li;MU Qi-shan;LIU Xi-ling;MA Chang-qin;WANG Xu-ning. Investigation on Defects of Cr:KTiOPO4 Crystal[J]. Journal of Synthetic Crystals, 2000, 29(1): 69-72.