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人工晶体学报 ›› 2004, Vol. 33 ›› Issue (3): 436-440.

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CVD金刚石厚膜的机械抛光及其残余应力的分析

徐锋;左敦稳;王珉;黎向锋;卢文壮;彭文武   

  1. 南京航空航天大学机电学院,南京,210016
  • 出版日期:2004-06-15 发布日期:2021-01-20
  • 基金资助:
    国家自然科学基金(50275076,50075039)

Study on Mechanical Polishing for CVD Diamond Thick Film and Its Residual Stresses

  • Online:2004-06-15 Published:2021-01-20

摘要: 较粗糙的表面是影响金刚石厚膜广泛使用的因素之一.本文对CVD金刚石厚膜进行了机械抛光的正交实验研究.实验结果表明,影响抛光效率的因素依次为抛光盘的磨粒、转速、正压力和抛光面积.采用较大粒度的磨盘,适当增加转速和压力有利于提高抛光的效率.此外用XRD方法对机械抛光前后的膜的残余应力进行了测定和对比分析,结果表明,经过机械抛光,残余拉应力明显减小.

关键词: 金刚石厚膜;机械抛光;正交试验;残余应力;XRD

中图分类号: