摘要: 采用VHF-PECVD技术制备了系列不同衬底温度的硅薄膜.运用微区拉曼散射(Micro-Raman)和X射线衍射(XRD)对薄膜进行了结构方面的测试分析.Micro-Raman测试结果表明:随衬底温度的升高,薄膜逐渐由非晶向微晶过渡,晶化率(Xc)逐渐增大.XRD的结果显示样品的择优取向随衬底温度的升高而变化,(220)方向计算得出样品的晶粒尺寸逐渐变大.
中图分类号:
张晓丹;高艳涛;赵颖;朱锋;魏长春;孙建;耿新华;熊绍珍. VHF-PECVD制备微晶硅薄膜及其微结构表征研究[J]. 人工晶体学报, 2005, 34(3): 475-478.
ZHANG Xiao-dan;GAO Yan-tao;ZHAO Ying;ZHU Feng;WEI Chang-chun;SUN Jian;GENG Xin-hua;XIONG Shao-zhen. Fabrication of Microcrystalline Silicon Films by VHF-PECVD and Their Microstructure Study[J]. Journal of Synthetic Crystals, 2005, 34(3): 475-478.