摘要: 采用基于密度泛函理论的第一性原理赝势法对Ag掺杂ZnO体系中Ag缺陷和本征缺陷复合体的几何结构、形成能和电子结构进行了比较研究.研究表明,Ag代替Zn位(AgZn)可以在ZnO中形成受主能级.同时,研究发现, Zni-AgZn和Oi-AgZn的形成能较小,存在的可能性较大.其中,Zni-AgZn 呈现明显的n型导电特性,而Oi-AgZn具有p型导电的趋势.因此Oi-AgZn有利于p型ZnO的形成.
中图分类号:
万齐欣;熊志华;李冬梅;刘国栋;甘丽新. 本征缺陷对Ag掺杂ZnO的影响[J]. 人工晶体学报, 2009, 38(5): 1202-1206.
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