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人工晶体学报 ›› 2010, Vol. 39 ›› Issue (1): 190-196.

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纯氮气反应溅射AlN薄膜及性质研究

杨世才;阿布都艾则孜·阿布来提;简基康;郑毓峰;孙言飞;吴荣   

  1. 新疆大学物理科学与技术学院,乌鲁木齐,830046
  • 出版日期:2010-02-15 发布日期:2021-01-20
  • 基金资助:
    国家自然科学基金(10864004,50862008);新疆大学博士启动基金(BS060110,BS080109)

Preparation and Properties of AlN Thin Films by Pure Nitrogen Reactive Sputtering

  • Online:2010-02-15 Published:2021-01-20

摘要: 在不同氮气浓度、不同溅射气压和衬底温度为20~370 ℃的条件下,分别在多种衬底上采用反应磁控溅射法沉积AlN薄膜.X射线衍射图谱表明:温度大于180 ℃时可在多种衬底上沉积出具有c轴择优取向的纤锌矿AlN薄膜.衬底温度和溅射时间的增加有利于薄膜结晶性的改善. 1.5 Pa的纯氮气气氛和Si(100)衬底是最佳择优生长条件.由紫外-可见光透射谱计算得到:在石英衬底上沉积的薄膜折射率为1.80~1.85,膜厚约为 1 μm、光学能隙为6.1 eV.原子力显微镜照片表明:在Si(100)衬底上制备的薄膜表面平滑,均方根粗糙度为2.2~13.2 nm.

关键词: 氮化铝;磁控反应溅射;择优取向

中图分类号: