摘要: 本文采用升华法沿着垂直于c轴方向的[1-100]方向生长6H-SiC单晶.利用光学显微镜对晶体表面及腐蚀后的晶片进行观察,发现沿[1-100]方向生长出的单晶与传统方法沿[0001]方向生长单晶有很多的不同之处,多型对于籽晶的继承性非常强,但是在生长过程中多型夹杂不会发生,该方法生长的晶体中没有发现螺位错(微管)缺陷.
中图分类号:
姜守振;李娟;陈秀芳;王英民;宁丽娜;胡小波;徐现刚;王继杨;蒋民华. 沿[1-100]方向升华法生长6H-SiC单晶[J]. 人工晶体学报, 2007, 36(1): 14-17.
JIANG Shou-zhen;LI Juan;CHEN Xiu-fang;WANG Ying-min;NING Li-na;HU Xiao-bo;XU Xian-gang;WANG Ji-yang;JIANG Min-hua. Sublimation Growth of 6H-SiC Single Crystal along [1-100] Direction[J]. Journal of Synthetic Crystals, 2007, 36(1): 14-17.