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人工晶体学报 ›› 2005, Vol. 34 ›› Issue (4): 671-675.

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化学计量比LiNbO3晶体宏观生长缺陷的观察

陈辉;郑燕青;陈建军;路治平;王绍华;施尔畏   

  1. 中国科学院上海硅酸盐研究所,上海,201800
  • 出版日期:2005-08-15 发布日期:2021-01-20
  • 基金资助:
    国家高技术研究发展计划(863计划)(2002AA311110);上海市科委资助项目(015261046)

Observation on Macroscopical Growth Defect of the Stoichiometric LiNbO3 Crystal

CHEN Hui;ZHENG Yan-qing;CHEN Jian-jun;LU Zhi-ping;WANG Shao-hua;SHI Er-wei   

  • Online:2005-08-15 Published:2021-01-20

摘要: 本文对采用双坩埚提拉法(DCCZ)生长的化学计量比LiNbO3晶体中出现的机械双晶、组分过冷、包裹体等宏观生长缺陷进行了观察和分析.结果表明机械双晶通常以{102}和{104}面族为双晶面,而不是以前文献报道的{102}和{012}面族;化学计量比LiNbO3晶体双坩埚提拉法生长与同成份晶体生长不同,前者是助熔剂生长体系,生长速度稍快或温度较小的波动就会导致组分过冷,而后者属于纯熔体生长体系,不容易产生组分过冷;包裹体是由于组分过冷生长时界面失稳夹入熔体所造成的.由于这些缺陷的存在都会严重影响单晶的获得率和质量,为此,我们通过大量实验研究后提出了可以减少和避免这些生长缺陷提高晶体质量的方法.

关键词: 双坩埚提拉法;化学计量比铌酸锂;机械双晶;组分过冷;包裹体;缺陷

中图分类号: