人工晶体学报 ›› 2013, Vol. 42 ›› Issue (12): 2572-2575.
赵彦民;肖温;李微;杨立;乔在祥;陈贵锋
出版日期:
2013-12-15
发布日期:
2021-01-20
基金资助:
ZHAO Yan-min;XIAO Wen;LI Wei;YANG Li;QIAO Zai-xiang;CHEN Gui-feng
Online:
2013-12-15
Published:
2021-01-20
摘要: 分别在Al∶ ZnO(ZAO)薄膜和Mo薄膜两种不同衬底材料上,采用“三步法”共蒸发工艺沉积了约0.8 μm厚的CuGaSe2(CGS)薄膜,用X射线衍射仪测量薄膜的织构,研究不同衬底材料对CGS薄膜的影响.在ZAO薄膜底电极上沉积的CGS薄膜的(112)衍射峰强度较Mo薄膜底电极上减弱,(220/204)衍射峰反而增强.
中图分类号:
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