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人工晶体学报 ›› 2016, Vol. 45 ›› Issue (8): 2061-2066.

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CZTSe/Cd1-xZnxS界面能带结构研究

张超;李微;邓朝文;杨立   

  1. 中国电子科技集团公司第十八研究所,天津,300384;天津理工大学,天津,300384
  • 出版日期:2016-08-15 发布日期:2021-01-20

Study on Band Structure of CZTSe/Cd1-xZnxS Interface

ZHANG Chao;LI Wei;DENG Chao-wen;YANG Li   

  • Online:2016-08-15 Published:2021-01-20

摘要: 严重的开路电压损耗是限制铜锌锡硫(硒)薄膜太阳电池性能提升的关键问题,其吸收层和缓冲层界面的能带结构有待进一步优化.针对此问题,本文对CZTSe/Cd1-xZnxS界面的能带结构进行了研究.首先,模拟计算了化学水浴法制备Cd1-xZnxS薄膜所需的溶液体系条件,通过椭偏仪和SEM测试结果分析了不同Cd/Zn比例的Cd1-xZnxS缓冲层形貌、光学特性以及禁带宽度.然后,对CZTSe/Cd1-xZnxS界面进行了XPS测试分析,发现CZTSe/Cd0.9Zn01S界面最为匹配,其导带失调值约为0.3 eV.最后对电池器件进行了制备与测试,得到的CZTSe/Cd0.9Zn0.1S结构的太阳电池比CZTSe/CdS结构具有更高的开路电压,达到了394 mV,转换效率达到了5.78;.

关键词: Cd1-xZnxS;CZTSe;XPS测试;能带结构

中图分类号: