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人工晶体学报 ›› 2020, Vol. 49 ›› Issue (11): 2128-2138.

所属专题: 宽禁带半导体晶体与器件

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4H-SiC半导体同质外延生长技术进展

冯淦;孙永强;钱卫宁;陈志霞   

  1. 瀚天天成电子科技(厦门)有限公司,厦门 361101
  • 出版日期:2020-11-15 发布日期:2021-01-20
  • 基金资助:
    国家重点研发计划(2016YFB0400403)

Progress in Homoepitaxial Growth of 4H-SiC Semiconductor

FENG Gan;SUN Yongqiang;QIAN Weining;CHEN Zhixia   

  • Online:2020-11-15 Published:2021-01-20

摘要: 4H-SiC(碳化硅)半导体是制作高温、高频、大功率电力电子器件的理想电子材料,近20年来材料生长技术水平不断提升,材料品质逐步提高.本文首先介绍了4H-SiC半导体同质外延生长的必要性,结合SiC多晶型的结构特点,介绍了4H-SiC外延生长过程中的原位掺杂浓度控制、扩展缺陷控制、点缺陷控制及高速生长控制方面的技术进展.同时,介绍了国产4H-SiC外延产业化的现状.

关键词: 4H-SiC, 宽禁带半导体, 外延生长, 化学气相沉积

中图分类号: