人工晶体学报 ›› 2026, Vol. 55 ›› Issue (8): 1252-1260.DOI: 10.16553/j.cnki.issn1000-985x.2026.0064
闫柯1,2(
), 梅炳初1, 张博2, 寇华敏2, 姜大朋2, 高文兰3, 苏良碧2(
)
YAN Ke1,2(
), MEI Bingchu1, ZHANG Bo2, KOU Huamin2, JIANG Dapeng2, GAO Wenlan3, SU Liangbi2(
)
摘要: 光学元件的表面质量直接决定其光学性能与使用寿命,其中亚表面损伤(SSD)层作为影响光学元件功能和可靠性的核心因素,已成为光学元件应用中的重点关注指标。本文以CaF2晶体为研究对象,围绕亚表面损伤层的表征及与355 nm波段光热弱吸收的关联展开研究。通过对晶体样品的亚表面损伤层厚度进行系统表征,并测试其在355 nm波段的光热弱吸收率,系统分析了亚表面损伤层厚度与光热弱吸收率之间的关系。结果表明,355 nm波段光热弱吸收率与SSD层厚度呈正相关,当损伤层厚度从51.57 nm增至154.09 nm时,光热弱吸收最大值由2.58×10-6提高至45.16×10-6,弱吸收平均值由0.43×10-6提高至7.85×10-6。本研究明确了亚表面损伤层对CaF2晶体光热弱吸收的影响规律,可为优化晶体加工工艺、抑制弱吸收损耗、提升晶体激光损伤阈值提供实验依据与理论支撑。
中图分类号: