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人工晶体学报 ›› 2011, Vol. 40 ›› Issue (1): 17-21.

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磁控溅射气体参数对氧化铟薄膜特性的影响

才玺坤;原子健;朱夏明;张兵坡;邱东江;吴惠桢   

  1. 浙江大学物理系,杭州,310027
  • 出版日期:2011-02-15 发布日期:2021-01-20
  • 基金资助:
    国家自然科学基金(10974174);浙江省自然科学基金(Z6100117)

Effects of Gas Parameters on Properties of In2O3 Thin Films Deposited by Magnetron Sputtering

CAI Xi-kun;YUAN Zi-jian;ZHU Xia-ming;ZHANG Bing-po;QIU Dong-jiang;WU Hui-zhen   

  • Online:2011-02-15 Published:2021-01-20

摘要: 采用射频磁控溅射法生长氧化铟薄膜,研究了溅射气压和溅射气体对氧化铟薄膜结构及光电特性的影响.X射线衍射结果表明制得的薄膜为立方结构的多晶体,随着溅射气压的升高,薄膜晶粒尺寸变大.1 Pa下沉积的氧化铟薄膜具有最大的迁移率和最小的载流子浓度,分别为15.2 cm2/V·s和1.19×1019cm-3.用O2溅射的氧化铟薄膜载流子浓度降至4.39×1013cm-3,在红外区(1.5~5.5μm)的平均透射率为85;,高于Ar溅射的薄膜,这可能是由于O2的加入减少了氧空位,降低了载流子浓度,使得自由载流子对红外光的吸收减弱.

关键词: In2O3;磁控溅射;溅射气压;电学特性;氧空位

中图分类号: