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人工晶体学报 ›› 2012, Vol. 41 ›› Issue (5): 1190-1194.

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薄膜厚度对ZnO∶Y薄膜结构及光电特性影响

杨田林;宋淑梅;辛艳青;李延辉;杜桂强;韩圣浩   

  1. 山东大学(威海)空间科学与物理学院,威海,264209
  • 出版日期:2012-10-15 发布日期:2021-01-20
  • 基金资助:
    山东省自然科学基金(ZR2009AM020);山东大学自主创新基金(2011ZRXT002,2011ZRYQ010)

Effect of Film Thickness on the Structural, Electrical and Optical Properties of ZnO∶ Y Films

YANG Tian-lin;SONG Shu-mei;XIN Yan-qing;LI Yan-hui;DU Gui-qiang;HAN Sheng-hao   

  • Online:2012-10-15 Published:2021-01-20

摘要: 室温下采用射频磁控溅射法在玻璃衬底上制备出了具有良好附着性、低电阻率和高透过率的新型ZnO∶Y (ZnO掺杂Y2O3,简称ZnO∶Y)透明导电薄膜.研究了薄膜厚度对ZnO∶Y薄膜结构、光电特性的影响.结果表明:不同厚度的ZnO∶Y薄膜均为多晶薄膜,具有ZnO六角纤锌矿结构,最佳取向为(002)方向.随薄膜厚度增加,其电阻率减小,当薄膜厚度增至800 nm时,其电阻率为8.36×10-4 Ω·cm,迁移率为15.3 cm2 ·V-1 ·s-1,载流子浓度为4.88×1020 cm-3.不同厚度的薄膜在可见光范围内平均透过率均为90;以上,当薄膜厚度从200 nm增加到800 nm时,薄膜禁带宽度从3.68 eV减小到3.61 eV.

关键词: 磁控溅射;ZnO∶Y薄膜;电阻率;透过率

中图分类号: