人工晶体学报 ›› 2020, Vol. 49 ›› Issue (8): 1494-1498.
张国栋;程奎;张龙振;陶绪堂
出版日期:
2020-08-15
发布日期:
2021-01-20
基金资助:
ZHANG Guodong;CHENG Kui;ZHANG Longzhen;TAO Xutang
Online:
2020-08-15
Published:
2021-01-20
摘要: 本文以P,Si,Cd为原料采用双温区法合成出140 g的高纯CdSiP2多晶料锭,分别采用自发形核和施加籽晶的垂直Bridgman法生长出φ12 mm×40 mm和φ15 mm×50 mm优质CdSiP单晶体.所生长的晶体中无宏观散射颗粒,(004)面的单晶摇摆曲线的半峰宽为40".透过光谱表明CdSiP2晶体在2~6.5tμm的透过率达到57;,接近其理论最大值.辉光放电质谱检测到晶体中含有少量的Fe、Cr、Mn、Ti等过渡金属.电子顺磁共振波谱检测到Fe+和Mn2的存在,这些杂质可能会引起晶体在近红外波段的光学吸收.
中图分类号:
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